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Editorial Cuvillier

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Entwicklung eines Lebensdauermodells für Durchkontaktierungen in mehrlagigen Leiterplatten

Impresion
EUR 29,20

E-Book
EUR 20,44

Entwicklung eines Lebensdauermodells für Durchkontaktierungen in mehrlagigen Leiterplatten (Tienda española)

Georg Konstantin (Autor)

Previo

Indice, PDF (65 KB)
Lectura de prueba, PDF (360 KB)

ISBN-13 (Impresion) 9783954049141
ISBN-13 (E-Book) 9783736949140
Idioma Deutsch
Numero de paginas 140
Laminacion de la cubierta Brillante
Edicion 1. Aufl.
Lugar de publicacion Göttingen
Lugar de la disertacion Stuttgart
Fecha de publicacion 05.02.2015
Clasificacion simple Tesis doctoral
Area Ciencias Ingeniería
Ingeniería
Ingeniería mecánica y de proceso
Palabras claves Durchkontaktierung, Lebensdauermodell, Kupferschicht, Leiterplatte
Descripcion

Durchkontaktierungen in mehrlagigen Leiterplatten, die im Automotive Bereich zum Einsatz kommen, werden im Feldeinsatz hohen thermischen Wechselbelastungen ausgesetzt. Diese führen aufgrund des unterschiedlichen thermischen Ausdehnungskoeffizienten von Epoxidharz-Basismaterial in Dickenrichtung und der Kupferschicht in der Durchkontaktierung zu thermomechanischen Spannungen. Die Spannungen resultieren in Dehnungen, die zur Materialermüdung der abgeschiedenen Kupferschicht und damit zum elektrischen Ausfall der elektronischen Komponente führen können. Im Rahmen der vorliegenden Arbeit wurde das Ermüdungsverhalten von elektrolytisch abgeschiedenem Kupfer in Durchkontaktierungen von mehrlagigen Leiterplatten unter Temperaturwechselbelastung untersucht. Der erste Teil der Arbeit widmete sich der Werkstoffcharakterisierung des Basismaterials und der elektrolytisch abgeschiedenen Kupferschicht in der Durchkontaktierung, wobei der Schwerpunkt der Untersuchungen in der Charakterisierung der Kupferschicht lag. Basierend auf numerischen Beanspruchungsanalysen und den Ausfalldaten aus Lebensdauerversuchen erfolgte im Schlussteil der Arbeit die Ableitung phänomenologischer Lebensdauermodelle. Hierbei wurde zur Berücksichtigung der Mittelspannungsempfindlichkeit des Kupfers der Schädigungsparameter nach Smith, Watson, Topper in modifizierter Form eingeführt.