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Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik

Uwe Arz – Autorenprofil

Mitwirkend an folgenden Publikationen

Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik
Breitbandige On-Wafer-Meßverfahren zur Bestimmung des elektrodynamischen Verhaltens planarer Leitungssysteme in der Mikroelektronik (Band 1)
Uwe Arz
Autor
ISBN-13 (Printausgabe): 978-3-89873-378-6
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73690-378-4
Price_print
EUR 23,00 EUR 21,85
Price_ebook
EUR 16,10
14.09.2001

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