Cookies helfen uns bei der Bereitstellung unserer Dienste. Durch die Nutzung unserer Dienste erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Cookies setzen.
De En Es
Kundenservice: +49 (0) 551 - 547 24 0

Cuvillier Verlag

30 Jahre Kompetenz im wissenschaftlichen Publizieren
Internationaler Fachverlag für Wissenschaft und Wirtschaft

Cuvillier Verlag

Premiumpartner
De En Es
Titelbild-leitlinien
Fachbereiche
Buchreihen (73)
975
Geisteswissenschaften
1869
Naturwissenschaften
4966
Ingenieurwissenschaften
1466
Allgemein
73
Allgemein 67
Pferdesport 5

Erweiterte Suche
Flußlinienverankerung in HTSL-Schichten mit kontrollierter Defektstruktur im Nanometerbereich

Sylvia Leonhardt

Mitwirkend an folgenden Publikationen

Flußlinienverankerung in HTSL-Schichten mit kontrollierter Defektstruktur im Nanometerbereich
Flußlinienverankerung in HTSL-Schichten mit kontrollierter Defektstruktur im Nanometerbereich
Sylvia Leonhardt
Autor
ISBN-13 (Printausgabe): 978-3-86537-130-0
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73691-130-7
Price_print
EUR 29,00 EUR 27,55
Price_ebook
EUR 20,30
28.07.2004

▲ nach oben springen