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Flußlinienverankerung in HTSL-Schichten mit kontrollierter Defektstruktur im Nanometerbereich

Sylvia Leonhardt – Autorenprofil

Mitwirkend an folgenden Publikationen

Flußlinienverankerung in HTSL-Schichten mit kontrollierter Defektstruktur im Nanometerbereich
Flußlinienverankerung in HTSL-Schichten mit kontrollierter Defektstruktur im Nanometerbereich
Sylvia Leonhardt
Autor
ISBN-13 (Printausgabe): 978-3-86537-130-0
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73691-130-7
Price_print
EUR 29,00 EUR 27,55
Price_ebook
EUR 20,30
28.07.2004

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