Editorial Cuvillier

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Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling

M. Rudolph – perfil de autor

Colaboro en las siguientes publicaciones

Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling
Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling (Volumen 3)
R. Doerner
Editor
M. Rudolph
Editor
ISBN-13 (Impresion): 978-3-86537-328-1
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73691-328-8
Price_print
EUR 19,00 EUR 18,05
Price_ebook
EUR 13,30
04.01.2005

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