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Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-Si02

Boris Plikat – Autorenprofil

Mitwirkend an folgenden Publikationen

Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-Si02

Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-Si02 (Band 1)

Autor

ISBN-13 (Printausgabe): 978-3-89712-236-9

Price_print

EUR 21,00 EUR 19,95

05.06.1998

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