Cuvillier Verlag

35 Jahre Kompetenz im wissenschaftlichen Publizieren
Internationaler Fachverlag für Wissenschaft und Wirtschaft

Cuvillier Verlag

De En Es
Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-Si02

Printausgabe
EUR 21,00 EUR 19,95

Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-Si02 (Band 1)

Boris Plikat (Autor)

ISBN-13 (Printausgabe) 3897122367
ISBN-13 (Printausgabe) 9783897122369
Sprache Deutsch
Seitenanzahl 122
Auflage 1
Band 1
Erscheinungsort Göttingen
Promotionsort Göttingen
Erscheinungsdatum 05.06.1998
Allgemeine Einordnung Dissertation
Fachbereiche Geowissenschaften