Editorial Cuvillier

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De En Es
Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-Si02

Impresion
EUR 21,00 EUR 19,95

Hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie an den kristallin-amorphen Grenzflächen c-Si/a-Ge und c-Si/a-Si02 (Volumen 1) (Tienda española)

Boris Plikat (Autor)

ISBN-10 (Impresion) 3897122367
ISBN-13 (Impresion) 9783897122369
Idioma Deutsch
Numero de paginas 122
Edicion 1
Volumen 1
Lugar de publicacion Göttingen
Lugar de la disertacion Göttingen
Fecha de publicacion 05.06.1998
Clasificacion simple Tesis doctoral
Area Geociencias