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Editorial Cuvillier

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GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements

Peng Luo – perfil de autor

Colaboro en las siguientes publicaciones

GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements
GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements (Volumen 46)
Peng Luo
Autor
ISBN-13 (Impresion): 978-3-73699-906-0
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73698-906-1
Price_print
EUR 48,00
Price_ebook
EUR 33,60
09.01.2019

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