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GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements

Peng Luo

Mitwirkend an folgenden Publikationen

GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements
GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements (Band 46)
Peng Luo
Autor
ISBN-13 (Printausgabe): 978-3-73699-906-0
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73698-906-1
Price_print
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09.01.2019

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