Editorial Cuvillier

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Phasentopographische Abbildung von Oberflächennahen Gitterverzerrungen in einkristallinem Silizium. Anwendung des Röntgen-Michelsoninterferometers.

Impresion
EUR 24,54 EUR 23,31

Phasentopographische Abbildung von Oberflächennahen Gitterverzerrungen in einkristallinem Silizium. Anwendung des Röntgen-Michelsoninterferometers. (Volumen 1) (Tienda española)

Markus Bartscher (Autor)

ISBN-10 (Impresion) 3897120542
ISBN-13 (Impresion) 9783897120549
Idioma Deutsch
Numero de paginas 132
Edicion 1
Volumen 1
Lugar de publicacion Göttingen
Lugar de la disertacion Göttingen
Fecha de publicacion 03.11.1997
Clasificacion simple Tesis doctoral
Area Física