Cuvillier Verlag

36 Jahre Kompetenz im wissenschaftlichen Publizieren
Internationaler Fachverlag für Wissenschaft und Wirtschaft

Cuvillier Verlag GmbH

De En Es
Phasentopographische Abbildung von Oberflächennahen Gitterverzerrungen in einkristallinem Silizium. Anwendung des Röntgen-Michelsoninterferometers.

Printausgabe
EUR 24,54 EUR 23,31

Phasentopographische Abbildung von Oberflächennahen Gitterverzerrungen in einkristallinem Silizium. Anwendung des Röntgen-Michelsoninterferometers. (Band 1)

Markus Bartscher (Autor)

ISBN-13 (Printausgabe) 3897120542
ISBN-13 (Printausgabe) 9783897120549
Sprache Deutsch
Seitenanzahl 132
Auflage 1
Band 1
Erscheinungsort Göttingen
Promotionsort Göttingen
Erscheinungsdatum 03.11.1997
Allgemeine Einordnung Dissertation
Fachbereiche Physik