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Cuvillier Verlag

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Phasentopographische Abbildung von Oberflächennahen Gitterverzerrungen in einkristallinem Silizium. Anwendung des Röntgen-Michelsoninterferometers.

Printausgabe
EUR 24,54 EUR 23,31

Phasentopographische Abbildung von Oberflächennahen Gitterverzerrungen in einkristallinem Silizium. Anwendung des Röntgen-Michelsoninterferometers. (Band 1)

Markus Bartscher (Autor)

ISBN-13 (Printausgabe) 3897120542
ISBN-13 (Printausgabe) 9783897120549
Sprache Deutsch
Seitenanzahl 132
Auflage 1
Band 1
Erscheinungsort Göttingen
Promotionsort Göttingen
Erscheinungsdatum 03.11.1997
Allgemeine Einordnung Dissertation
Fachbereiche Physik