Editorial Cuvillier

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Untersuchung der Degradation von InAlGaN-basierten ultravioletten Leuchtdioden zur Verbesserung der Zuverlässigkeit

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Untersuchung der Degradation von InAlGaN-basierten ultravioletten Leuchtdioden zur Verbesserung der Zuverlässigkeit (Volumen 79) (Tienda española)

Johannes Glaab (Autor)

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Diese Arbeit untersucht das betriebsinduzierte Degradationsverhalten von InAlGaN-basierten UV-C und UV-B LEDs. Durch Analyse des zeitlichen Verlaufs von elektroopti-schen Parametern, wie beispielsweise optische Leistung und Betriebsspannung, sowie Materialanalytischen Messungen konnten drei Degradationsmechanismen identifiziert werden, welche zu einer Reduktion der optischen Leistung der LEDs führen: Die Aktivie-rung von Magnesium-Wasserstoff-Komplexen, die Bildung von Punktdefekten in der akti-ven Zone, sowie die Diffusion von Punktdefekten in die aktive Zone. Optimierungen der Heterostruktur, des p-Dotierprofil und der Elektronenblockierschicht verbesserten die Lochinjektion und strahlende Rekombination, wodurch die initiale Leistung erhöht und die Lebensdauer der LEDs deutlich gesteigert werden konnte.

ISBN-13 (Impresion) 9783689528744
ISBN-13 (E-Book) 9783689528751
Idioma Deutsch
Numero de paginas 202
Laminacion de la cubierta mate
Edicion 1.
Serie Innovationen mit Mikrowellen und Licht. Forschungsberichte aus dem Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik
Volumen 79
Lugar de publicacion Göttingen
Fecha de publicacion 20.06.2025
Clasificacion simple Tesis doctoral
Area Ciencias Ingeniería
Ingeniería eléctrica
Palabras claves Ladungsträger, Strahlungsquellen, Halbleiter, Inalgan, Leckstrom, nichtstrahlend, Rekombination, Photostrom, LED, Degradationsmechanismen, Degradationsverhalten, elektrooptisch, Elektronenblockierschicht, Molekularstrahlepitaxie, metallorganische Gasphasenepitaxie