Cookie-Einstellungen

Cookies sind kleine Textdateien, mit denen Ihr Webbrowser Ihre sog. Session speichert. Wir nutzen technisch notwendige Cookies, um einen komfortablen Buchungsprozess anbieten zu können. Darüber hinaus können Sie uns dabei helfen, das Buchungsportal fortlaufend zu optimieren, in dem Sie unseren Analytics Cookies zustimmen:

Alle Cookies erlauben

Marketing-Cookies verbieten

Meine Cookie-Einstellungen ansehen

De En Es
☰
Kundenservice/Kontakt

Cuvillier Verlag

35 Jahre Kompetenz im wissenschaftlichen Publizieren
Internationaler Fachverlag für Wissenschaft und Wirtschaft

Cuvillier Verlag

De En Es
Fachbereiche
Buchreihen (92)
1307
Geisteswissenschaften
2291
Naturwissenschaften
5354
Ingenieurwissenschaften
1745
Allgemein
91
Allgemein 83
Pferdesport 7
Leitlinien Unfallchirurgie
5. Auflage bestellen
Erweiterte Suche
Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling

R. Doerner – Autorenprofil

Mitwirkend an folgenden Publikationen
Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling
Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling (Band 3)
R. Doerner
Herausgeber
M. Rudolph
Herausgeber
ISBN-13 (Printausgabe): 978-3-86537-328-1
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73691-328-8
Price_print
EUR 19,00 EUR 18,05
Price_ebook
EUR 13,30
04.01.2005
▲ nach oben springen