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Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling

R. Doerner

Mitwirkend an folgenden Publikationen

Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling
Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling (Band 3)
R. Doerner
Herausgeber
M. Rudolph
Herausgeber
ISBN-13 (Printausgabe): 978-3-86537-328-1
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73691-328-8
Price_print
EUR 19,00 EUR 18,05
Price_ebook
EUR 13,30
04.01.2005

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