Cookies helfen uns bei der Bereitstellung unserer Dienste. Durch die Nutzung unserer Dienste erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Cookies setzen.
De En Es
Kundenservice: +49 (0) 551 - 547 24 0

Cuvillier Verlag

30 Jahre Kompetenz im wissenschaftlichen Publizieren
Internationaler Fachverlag für Wissenschaft und Wirtschaft

Cuvillier Verlag

Premiumpartner
De En Es
Titelbild-leitlinien
Fachbereiche
Buchreihen (74)
991
Geisteswissenschaften
1889
Naturwissenschaften
4988
Ingenieurwissenschaften
1485
Allgemein
72
Allgemein 66
Pferdesport 5

Erweiterte Suche
Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling

R. Doerner

Mitwirkend an folgenden Publikationen

Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling
Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling (Band 3)
R. Doerner
Herausgeber
M. Rudolph
Herausgeber
ISBN-13 (Printausgabe): 978-3-86537-328-1
ISBN-13 (E-Book): 978-3-73691-328-8
Price_print
EUR 19,00 EUR 18,05
Price_ebook
EUR 13,30
04.01.2005

▲ nach oben springen