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Cuvillier Verlag

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Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling

Printausgabe
EUR 19,00 EUR 18,05

E-Book
EUR 13,30

Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling (Band 3)

A Festschrift for Peter Heymann

R. Doerner (Herausgeber)
M. Rudolph (Herausgeber)

Vorschau

Inhaltsverzeichnis, Datei (27 KB)
Vorwort, Datei (26 KB)
Leseprobe, Datei (150 KB)

ISBN-13 (Printausgabe) 3865373283
ISBN-13 (Printausgabe) 9783865373281
ISBN-13 (E-Book) 9783736913288
Sprache Deutsch
Seitenanzahl 130
Auflage 1 Aufl.
Buchreihe Innovationen mit Mikrowellen und Licht. Forschungsberichte aus dem Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik
Band 3
Erscheinungsort Göttingen
Erscheinungsdatum 04.01.2005
Allgemeine Einordnung Festschrift
Fachbereiche Maschinenbau und Verfahrenstechnik
Beschreibung

This third volume of the Forschungsberichte presents a collection of nine technical papers on selected topics of microwave engineering, ranging from investigations of the plasma in a Tokamak to the modeling of Heterojunction Bipolar Transistors. The main focus, however, is on noise in transistors and circuits, and how to measure it. Eight of the contributions are original papers, and one is a reprint from Plasma Phys. Control. Fusion, it appears by courtesy of the Institute of Physics Publishing.