Modellierung und Simulation von Testautomaten für integrierte Schaltungen

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Diese Arbeit beschreibt Modellierung und Simulation von Testautomaten, um Prüfprogramme zu simulieren und neue Architekturkonzepte für Testsysteme zu bewerten. Dazu werden zunächst Hard- und Software-Komponenten für derzeitig verfügbare Testsysteme analysiert. Die Analyse zeigt, daß die evolutionäre Weiterentwicklung der Hardware hin zu immer flexibleren Systemen zu Problemen bei der Modellierung und Programmierung der Instrumente führt. Die Untersuchung verfügbarer Virtual-Test-Produkte ergab, daß ein allgemeiner Ansatz fehlt, der auf die gesamte Aufgabe des Testingenieurs abzielt. Die in der Arbeit geschaffene virtuelle Testumgebung bietet die Möglichkeit der Prüfprogrammsimulation auf verschiedenen Abstraktionsebenen. Es wurde ein Verfahren zum netzwerkweiten Datenaustausch entwickelt, der nebenläufige Prozesse zeitgenau synchronisiert. Am Beispiel eines digitalen Pins werden Lösungswege gezeigt, wie komplexes Instrumentenverhalten abstrahiert wird, um zu schnellen Simulationsmodellen zu gelangen. Um dem Ziel, schnell und effektiv Testprogramme zu schreiben [ITRS2003], mit Hilfe einer system-unabhängigen High-Level-Sprache näherzukommen, ist aus heutiger Sicht das Entfeinern der Hardware nötig. Dazu wird ein Modellierungskonzept zur Entwicklung einer neuen Testsystemarchitektur vorgestellt, das das Zusammenspiel verschiedener Komponenten innerhalb einer Architektur verifiziert und verschiedene Architekturkonzepte miteinander vergleicht.